Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Неволин В.К. Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии

  • Файл формата pdf
  • размером 1,91 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Неволин В.К. Физические основы туннельно-зондовой нанотехнологии
2-е изд., испр. и доп. - М.: МИЭТ, 2000. - 100 с. - Предназначено для студентов старших курсов и аспирантов.
Изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, рассмотрены примеры практического применения зондовых микроскопов, приведены экспериментальные данные, обсуждаются проблемы, требующие решения.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Анищик В.М., Борисенко В.Е., Жданок С.А., Толочко Н.К., Федосюк В.М. Наноматериалы и Нанотехнологии

  • pdf
Мн.: БГУ, 2008. - 375 с. В монографии обобщены и систематизированы многочисленные фундаментальные и прикладные знания по разнообразным наноматериалам и нанотехнологиям, дана общая характеристика наноматериалов и нанотехнологий, рассмотрены основные методы исследования наноматериалов, описаны структура и свойства различных видов наноматериалов, области их применения, особенности...
  • 14,57 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Дедкова Е.Г., Чуприк А.А., Бобринецкий И.И., Неволин В.К. Приборы и методы зондовой микроскопии

  • pdf
М.: МФТИ, 2011. — 160 с. — ISBN: 978-5-8493-0218-8 Учебное пособие «Приборы и методы зондовой микроскопии» содержит подробное описание зондовых микроскопов, их принципов работы и применениям в изучении объектов нанотехнологий. Отдельные разделы пособия посвящены сканирующей туннельной, атомно- силовой и оптической ближнепольной микроскопии. Особое внимание в пособии уделено...
  • 3,32 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Неволин В. Зондовые нанотехнологии в электронике

  • pdf
Москва, Техносфера, 2006. - 160 с. Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены...
  • 3,51 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия

  • djvu
Монография. — Пер. с англ. C.А. Иванова. — М.: Техносфера, 2006. — 256 с. Монография посвящена особенностям конструкции совре­менных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго­дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроско­пии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изобра­жений, в том числе на основе...
  • 6,32 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • djvu
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов...
  • 7,58 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх