М.: Машиностроение, 1990. — 224 с.: ил.
Рассмотрены теоретические основы передачи измеряемой деформации чувствительному элементу тензорезистора и преобразования ее в приращения электрического сопротивления чувствительными элементами проводникового и полупроводникового типов. Приведены методики расчета и аналитические зависимости метрологических характеристик тензорезисторов от механических и геометрических параметров их конструктивных элементов.
Приведены результаты исследования конструктивных элементов и разработки тензорезисторов для измерения деформаций при высоких и криогенных температурах, в широком диапазоне температур от —200 до 300°С и для усталостных испытаний конструкций. Дана методика определения погрешности измерения деформаций тензорезисторов в различных условиях их применения.
Для инженерно-технических н научных работников, занятых разработкой и применением тензорезисторов.