Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Watts J.F., Wolstenholme J. An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES

  • Файл формата pdf
  • размером 12,72 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Watts J.F., Wolstenholme J. An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES
Wiley, 2003, 212p.
Electron spectroscopy: some basic concepts
Electron spectrometer design
The electron spectrum: qualitative and quantitative interpretation
Compositional depth profiling
Applications of electron spectroscopy in materials science
Comparison of XPS and AES with other analytical techniques
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Vickerman J.C., Gilmore I.S. (eds.) Surface analysis - the principal techniques

  • pdf
2nd Ed. , 2009, John Wiley & Sons, 666 p. How do we Define the Surface? How Many Atoms in a Surface? Information Required Surface Sensitivity Radiation Effects – Surface Damage Complexity of the Data Auger Electron Spectroscopy Principle of the Auger Process Instrumentation Quantitative Analysis Depth Profile Analysis Electron Spectroscopy for Chemical Analysis Overview X-ray...
  • 15,80 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх