Bubert H., Jenett H.(Eds.) Surface and thin film analysis: principles, instrumentation, applications

• Файл формата djvu
• размером 5,77 МБ

• Добавлен пользователем oxaoxa, дата добавления неизвестна
• Описание отредактировано 20.01.2011 15:42

Wiley -VCH, 2002, 352p.

Electron detection
Ion detection
Photon detection
Scanning probe microscopy
Summary and comparison of techniques
Surface and thin film analytical equipment suppliers