Учеб. пособие. — Севастополь: Севастопольский институт ядерной энергии и промышленности (СНУЯЭиП), 2010. — 180 с.: ил.
В учебном пособии рассмотрены основные положения метрологического обеспечения измерительных информационных систем (ИИС), широко используемых при измерениях параметров сложных объектов.
Изложены особенности применения ИИС и обусловленные этими особенностями проблемы метрологического обеспечения систем. Описаны метрологические свойства ИИС и методы их экспериментального исследования, рассмотрены содержание и особенности основных процедур метрологического контроля и надзора. Кроме того, описаны технические средства метрологического обеспечения ИИС, приведена классификация эталонов, даны общие требования и особенности их применения.
Структура учебного пособия позволяет эффективно применять его в учебном процессе, как при изучении теоретического материала, так и при выполнении практических и контрольных заданий, курсовых проектов, а также при подготовке к семестровым зачетам и экзаменам.
Пособие предназначено для студентов специальности 6.051001 «Метрология и информационно-измерительные технологии» и может быть рекомендовано для курсов повышения квалификации специалистов, работающих в области метрологического обеспечения измерительных информационных систем для АСУ ТП электрических станций и сетей.