Золотарев В.М. Методы исследования материалов фотоники: элементы теории и техники
Файл формата
pdf
размером 13,64 МБ
Добавлен пользователем Igor_gin, дата добавления неизвестна
Описание отредактировано
Учебное пособие. - СПб: СПбГУ ИТМО. , 2008. - 275 с. Рассмотрены элементы теории и техники методов спектроскопии в применении к исследованиям состава и структурно-химического строения вещества. В книгу включены материалы по современным аппаратурным средствам, а также даны примеры разных приложений, раскрывающих возможности современной техники для исследования вещества. Учебное пособие предназначено для подготовки студентов технических специальностей, обучающихся по направлениям подготовки "Фотоника и оптоинформатика", "Оптотехника", а также специальности "Оптические технологии и материаловедение", и специализирующихся в области применения спектральных методов исследования и контроля веществ, материалов и изделий, включая элементы фотоники. Материалы пособия также могут быть также полезны для широкого круга специалистов (физиков, химиков, технологов, биологов), приступающих к изучению спектральных методов исследования.
Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
М.: Техносфера, 2008. — 442 с. Серия: МИР физики и техники. Перевод 6-го немецкого издания (Перевод с немецкого Л. Н. Казанцевой). Первый лазер был создан в 1960 году. В последующие десятилетия появилось множество разных лазерных устройств для самого широкого применения. Ныне лазеры играют важнейшую роль в сфере научных и технических измерений, информационных технологий, в...
СПб: СПбГУИТМО, 2008. - 103 с.
Настоящее издание представляет собой учебное пособие к образовательному модулю ОПД. Ф.07 «Оптическое материаловедение» бакалаврской программы «Фотоника и оптоинформатика».
Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по бакалаврскому направлению «Фотоника и оптоинформатика». Материал может быть также рекомендован для студентов,...
СПб: ИТМО, 2006. - 203 с. Рассмотрены виды несферических поверхностей и их аберрационные свойства, определяющие смысл и целесообразность их применения при композиции оптических систем. Представлен анализ технологических параметров несферических поверхностей. Рассмотрены возможные схемы контроля формы поверхности несферических поверхностей, виды компенсаторов компенсационных...
Методы исследования состава и структуры материалов.Учебное пособие, курс лекций. — СПб: НИУ ИТМО, 201 г.– 266 стр. Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и...
Методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок. Учебное пособие, курс лекций. — СПб: НИУИТМО, 2013г. – 166 стр.
Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов,...
Спб: СПбГТУ ИТМО, 2009. - 130 с. Учебное пособие является продолжением курса лекций "Материалы и технологии волоконной оптики: оптическое волокно для систем передачи информации". В пособии описаны оптические волокна для специальных приложений, их характеристики, а также материалы и технологии их изготовления. Рассмотрены активированные волокна для оптических усилителей и...