Воробьев Ю.В., Добровольский В.Н., Стриха В.И. Методы исследования полупроводников

Киев: Выща школа, Головное изд-во, 1988. — 232 с.: ил. — ISBN 5-11-000230-4.В учебном пособии рассмотрены методы определения основных параметров полупроводниковых материалов (удельного сопротивления, концентрации и подвижности носителей заряда, термических, термоэлектрических и рекомбинационных параметров, а также параметров, характеризующих поверхность полупроводника). Изложены физические принципы методик исследования полупроводников, приведены схемы экспериментальных установок, проанализированы условия применимости различных методик и основные источники их погрешностей.
Особое внимание уделено проблеме использования ЭВМ в исследованиях полупроводников.
Для студентов физических и радиофизических специальностей вузов.