Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

  • Файл формата pdf
  • размером 8,67 МБ
  • Добавлен пользователем , дата добавления неизвестна
  • Описание отредактировано
Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. Методы анализа элементного состава поверхностных слоев
Учебное пособие. — Минск: БГУ, 2007. — 158 с.
Изложены основные представления о современных методах анализа элементного состава поверхностных слоев материалов. Для каждого из методов рассматриваются физические процессы, лежащие в основе метода, основные их закономерности, зависимости получаемых данных от параметров анализирующего пучка, достоинства и недостатки метода, а также некоторые технологические вопросы.
Учебное пособие предназначено для студентов старших курсов физических и физико-технических факультетов.
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Борман В.Д. (ред.) Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • pdf
Троян В.И., Пушкин М.А., Борман В.Д., Тронин В.Н. Учебное пособие. - М.: МИФИ, 2008. - 260 с. Распознано В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая...
  • 6,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Гоулдстейн Дж., Яковица Х. Практическая растровая электронная микроскопия

  • pdf
М: Мир, 1978. — 656 с. В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более...
  • 36,50 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 1. Физика твердого тела

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 1. — М.: МИФИ, 2007. — 636 с. Авторы: Елманов Г. Н., Залужный А. Г., Скрытный В. И., Смирнов Е. А., Яльцев В. Н. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 7,28 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 30,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Пантелеев В.Г., Егорова О.В., Клыкова Е.И. Компьютерная микроскопия

  • pdf
Москва: Техносфера, 2005. — 304 с. С появлением микроскопа открылась возможность увидеть «невидимое», а с появлением видеокамер и компьютера стало возможным зафиксировать полученные данные и проанализировать их с целью получения объективной количественной информации. В результате соединения этих составляющих был разработан новый прибор — анализатор изображений. За последние 10...
  • 6,23 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Троян В.И. и др. Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

  • djvu
Москва, МИФИ, 2008. - 260 с. В книге представлены физические основы экспериментальных методов, являющихся базовыми в исследованиях наноструктур и поверхности твердого тела: рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, оже-электронная спектроскопия, спектроскопия рассеяния медленных ионов, сканирующая зондовая микроскопия и дифракция медленных эленктронов. Набор этих методов...
  • 7,58 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Наверх