Учебник. - Ростов на Дону, ЮФУ, 2009. – 288 с.
В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии и кристаллохимии, физика дифракци рентгеновских лучей, нейронов и электронов, анализа атомного строения веществ. Особое внимание уделено достоверности и точности результатов структруного анализа.
Учебник может быть использован при подготовке студентов и аспирантов физических, химических, геологических, биологических и материаловедческих специальностей, а также инженерами и научным работниками, занимающимися разработкой новых матреалов различного применения.