Ковенский И.М., Поветкин В.В. Современные физические методы анализа и контроля электролитических покрытий

Тюмень: Тюменская правда, 1989. — 44 с.
Обобщены современные достижения в области анализа и контроля электролитических покрытий с помощью электронной, растровой и автоионной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, Оже-электронной и фотоэлектронной спектроскопии, ядерного гамма-резонанса и аннигиляции позитронов. Показаны перспективы использования этих методов в заводских и научных лабораториях и даны практические рекомендации. Предназначена для инженерно-технических и научных работников, специализирующихся в области металловедения, получения функциональных покрытий и защиты металлов от коррозии.