Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Векилова Г.В., Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3

  • Файл формата pdf
  • размером 10,28 МБ
  • Добавлен пользователем
  • Описание отредактировано
Векилова Г.В., Иванов А.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3
Конспект лекций. — М.: МИСиС, 2007. — 41 с.
Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии.
Просвечивающая электронная микроскопия
Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ)
Основные типы контраста в ПЭМ
Основы кинематической теории дифракционного контраста
Принципы динамической теории (двухлучевой случай)
Контраст на кристаллах с дефектами
Анализ гетерогенного сплава (матричный контраст)
Контраст собственно на включениях
  • Чтобы скачать этот файл зарегистрируйтесь и/или войдите на сайт используя форму сверху.
  • Регистрация

Смотри также

Подробнее

Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов

  • djvu
М.: МИСиС, 2009. - 145 с. В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и...
  • 4,41 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Горелик С. С, Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ

  • djvu
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
  • 16,62 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Калин Б.А. (ред.) Физическое материаловедение. Том 3. Методы исследования структурно-фазового состояния материалов

  • pdf
Учебник для вузов. В 6 т. Том 3. — М.: МИФИ, 2008. — 808 с. Авторы: Н.В. Волков, В.И. Скрытный, В.П. Филиппов, В.Н. Яльцев. Распознано. Учебник «Физическое материаловедение» представляет собой 6-томное издание учебного материала по всем учебным дисциплинам базовой материаловедческой подготовки, проводимой на 5–8 семестрах обучения студентов по кафедре Физических проблем...
  • 30,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Подробнее

Новиков И.И., Строганов Г.Б., Новиков А.И. Металловедение, термообработка и рентгенография

  • djvu
Учебник. — М.: МИСИС, 1994. — 480 с. — ISBN 5-87623-005-7. Изложены основы общего металловедения и термической обработки. проанализированы фазовые равновесия и фазовые превращения в металлах и сплавах, закономерности формирования структуры сплавов при затвердевании в широком диапазоне скоростей охлаждения, влияние химического состава на эксплуатационные и литейные свойства...
  • 6,51 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Уманский Я.С., Скаков Ю.А. и др. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

  • djvu
М.: Металлургия, 1982, 632 с. Скан разворотами Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов. Изложены принципы и применение просвечивающей, дифракционной и...
  • 8,56 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Подробнее

Хирш П., Хови А., Николсон Р., Пэшли Д., Уэлан М. Электронная микроскопия тонких кристаллов

  • djvu
Москва: Мир, 575 страниц; 1968 г. Данная книга представляет собой фундаментальную энциклопедическую монографию учебного характера, весьма полно освещающую основы теории и экспериментальную практику современной просвечивающей электронной микроскопии кристаллов. Подробно описаны техника приготовления образцов, методика работы с электронным микроскопом, большое внимание уделено...
  • 35,79 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Наверх