Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Серии от ЦНИИ 'Электроника'

  • Добавлен пользователем
  • Отредактирован
ЦНИИ "Электроника" - информационно-аналитический центр отечественной радиоэлектронной промышленности.
Серия 1. Электроника СВЧ:
[1975] Выпуск 05 (0302). Методы планируемого эксперимента и их применение djvu;
[1986] Выпуск 11 (1200). Перспективные линии передачи КВЧ диапазона djvu;
[1989] Выпуск 07 (1451). Желобковый волновод. Часть 1. Общие сведения и методы теоретического анализа pdf;
[1989] Выпуск 10 (1454). Стабильные и высокостабильные полупроводниковые СВЧ-генераторы на диэлектрических резонаторах djvu;
[1989] Выпуск 11 (1465). Желобковый волновод. Часть 2. Элементы фидерного тракта djvu;
[1989] Выпуск 21 (1505). Многофункциональные генераторные СВЧ-устройства с использованием диэлектрических резонаторов djvu;
[1992] Выпуск 05 (1673). Термо- и вторично-электронные катоды для электровакуумных и газоразрядных приборов djvu;
Серия 2. Полупроводниковые приборы:
[1975] Выпуск 01 (0045). Применение полевых транзисторов и гибридных интегральных схем на их основе в радиоэлектронной аппаратуре djvu;
[1980] Выпуск 06 (0739). Линейные оптоэлектронные развязывающие устройства djvu;
[1982] Выпуск 01 (0857). Алмазные теплоотводы в конструкции полупроводниковых приборов djvu;
[1984] Выпуск 08 (1051). Моделирование процессов осаждения диэлектрических слоев из газовой фазы при низком давлении djvu;
[1986] Выпуск 01 (1178). Тонкие пленки силицидов тугоплавких металлов. Часть 1 djvu;
[1986] Выпуск 07 (1242). Плазмохимическое осаждение тонких слоев в реакторах пониженного давления. Часть 1. Оборудование для осаждения слоев djvu;
[1987] Выпуск 04 (1290). Методы и средства измерения температуры в полупроводниковом производстве djvu;
[1988] Выпуск 02 (1332). Плазмохимическое осаждение тонких слоев в реакторах пониженного давления. Часть 2. Процессы осаждения и свойства тонких пленок djvu;
[1988] Выпуск 04 (1342). Природные алмазы в полупроводниковой электронике djvu;
[1989] Выпуск 01 (1424). Совершенствование чистых производственных помещений для изготовления полупроводниковых приборов djvu;
[1989] Выпуск 03 (1433). Особенности эпитаксии и свойства гетеропереходов типа СIVIIIВV djvu;
[1989] Выпуск 09 (1506). Особенности получения и области применения пористого кремния в электронной технике djvu;
Серия 3. Микроэлектроника:
[1974] Выпуск 04 (0261). Оксидное стекло в интегральной оптике pdf;
[1977] Выпуск 01 (0077). Микросхемы серий К519 и К527 в запоминающих устройствах вычислительной техники и автоматики djvu;
[1986] Выпуск 05 (1233). Плазмохимические методы синтеза диэлектрических слоев в полупроводниковой технологии djvu;
[1989] Выпуск 04 (1472). Гетероэпитаксия арсенида галлия на кремнии djvu;
Серия 4. Электровакуумные и газоразрядные приборы:
[1972] Выпуск 02. Тематический номер, посвященный газоразрядным приборам djvu;
[1982] Выпуск 02 (0885). Вакуумные люминесцентные индикаторы djvu;
Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты:
[1971] Выпуск 02 (0278). Подстроечные конденсаторы с твердым неорганическим диэлектриком djvu;
[1973] Выпуск 01 (0163). Подстроечные конденсаторы djvu;
[1981] Выпуск 04 (0837). Керметные толстопленочные резисторы djvu;
Серия 6. Материалы:
[1975] Выпуск 02 (0309). Резистивные сплавы, проволоки и провода, применяемые в проволочных резисторах djvu;
[1982] Выпуск 08 (0911). Оптические свойства нитрида галлия. Часть 1 djvu;
[1984] Выпуск 05 (1041). Современное состояние исследований механизма роста эпитаксиальных слоёв кремния и соединений AIIIBV из газовой фазы. Часть 1. Элементарные процессы на поверхности монокристаллов, растущих из газовой фазы djvu;
[1984] Выпуск 09 (1055). Новые применения лучистой энергии в микроэлектронике. Часть 2. Кремниевые эпитаксиальные структуры djvu;
[1986] Выпуск 01 (1170). Получение, свойства и применение гидрогенизированного аморфного кремния djvu;
[1986] Выпуск 05 (1208). Эпитаксиальный рост тонких пленок силицидов djvu;
[1986] Выпуск 09 (1235). Новые применения лучистой энергии в микроэлектронике. Часть 3. Гетероэпитаксиальные структуры djvu;
[1988] Выпуск 01 (1336). Протонные процессы в оксидных слоях и пленках djvu;
[1989] Выпуск 06 (1487). Плазмохимическое и ионно-химическое травление полупроводниковых материалов типа AIIIBV djvu;
[1990] Выпуск 08 (1569). Рост, свойства и применение междендритных монокристаллических лент кремния djvu;
[1990] Выпуск 09 (1574). Механизмы роста, структура и электрофизические свойства гетероэпитаксиальных слоев арсенида индия, полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии djvu;
Серия 7. Технология, организация производства и оборудование:
[1979] Выпуск 08 (0659). Магнетронные распылительные устройства (магратроны) djvu;
[1980] Выпуск 02 (0702). Органические добавки для электрохимического нанесения олова и его сплавов djvu;
[1984] Выпуск 10 (1035). Тлеющий разряд в магнитном поле и магниторазрядные устройства вакуумного технологического оборудования pdf;
[1985] Выпуск 04 (1088). Аппаратура и методика осаждения слоев при пониженном давлении. Часть 2 djvu;
[1986] Выпуск 08 (1202). Релаксационная спектроскопия глубоких уровней (Практическое применение) djvu;
[1988] Выпуск 04 (1338). Послойный анализ полупроводниковых материалов методом вторично-ионной масс-спектрометрии djvu;
[1988] Выпуск 14 (1402). Объемно-планировочные и конструктивные решения производственных зданий для размещения чистых комнат djvu;
[1988] Выпуск 16 (1418). Системы воздухоснабжения чистых помещений djvu;
[1989] Выпуск 05 (1435). Применение высокотемпературных тепловых труб в прецизионном термическом и ростовом оборудовании djvu;
[1989] Выпуск 08 (1455). Тенденции развития оборудования для газофазной эпитаксии кремния djvu;
Серия 11. Лазерная техника и оптоэлектроника:
[1982] Выпуск 02 (0886). Вакуумное оборудование для производства тонкопленочных структур квантовой электроники;

Связанные файлы

Москва: ЦНИИ Электроника, 1975. — 135 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 5 (0302)). Рассмотрены работы, посвященные планированию и обработке результатов экстремальных экспериментов и их применению (главным образом в области электровакуумного приборостроения). Приводятся основные определения теории эксперимента, описываются каталоги экономичных...
  • 3,49 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1980. — 38 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 2 (702)). Рассматриваются различные классы органических добавок, применяемых в качестве блескообразователей и выравнивателей при электрохимическом нанесении олова и его сплавов, таких как олово—никель, олово— висмут, олово—свинец,...
  • 1,17 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Ендриховский С.А., Нестеров А.С., Неустроев С.А., Соколов Е.Б., Хурошвили Ш.Г. Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 61 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 1 (1170)). Обобщаются все доступные сведения о методах получения, свойствах и известных в настоящее время областях применения гидрогенизированного аморфного кремния α-Si:H. Наиболее распространенным...
  • 1,83 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 43 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 5 (1435)). Изложены данные о применении высокотемпературных тепловых труб в прецизионном термическом и ростовом оборудовании с целью формирования изотермических температурных полей, а также температурных полей сложного профиля. Подробно...
  • 1,20 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1987. — 56 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 4 (1290)). Обобщен и систематизирован материал по методам и средствам измерения температуры в полупроводниковом производстве. Описаны термопреобразователи, цифровые измерители температуры, температурные индикаторы, а также различные виды пирометров и...
  • 2,00 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1984. — 41 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 9 (1055)). Обзор посвящен применению интенсивной импульсной термообработки в технологии кремниевых гомо- и гетероэпитаксиальных структур. Рассматриваются их технологические особенности, конкретные технические решения, методы их следований, последние достижения в создании таких...
  • 1,71 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. — 60 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 8 (911)). Проанализированы теоретические и экспериментальные данные о процессах поглощения света в кристаллах нитрида галлия, выращенных различными методами. Приведены сведения о фононном спектре и электрон-фононном взаимодействии в нитриде галлия. Рассмотрены возможные...
  • 1,94 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 36 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 3. Микроэлектроника. Выпуск 4 (1472)). Проведен анализ существующих методов выращивания эпитаксиальных слоев арсенида галлия на кремниевой подложке. Рассмотрены механизм релаксации напряжений, возникающих вследствие разницы постоянных решеток и коэффициентов термического расширения, природа образования...
  • 1,34 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1990. — 50 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 9 (1574)). Рассмотрены опубликованные в отечественной и зарубежной печати данные об особенностях получения слоев арсенида индия методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках арсенида галлия с ориентацией поверхности (001), механизмы зарождении пленок InAs, их морфология,...
  • 1,03 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1974. — 18 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 3. Микроэлектроника. Выпуск 4 (261)). В работе дается описание некоторых устройств интегральной оптики. Рассмотрены технологические приемы создания таких устройств из тонких пленок оксидного стекла. Перечислены требования к стеклу, используемому в качестве активных и пассивных элементов. Обзор...
  • 916,73 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1989. — 65 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 7 (1451)). Аналитический обзор представляет собой первую в отечественной и зарубежной литературе систематизацию сведений о желобковом волноводе (ЖВ), считающемся в настоящее время одной из наиболее перспективных линий передачи диапазона мм- и субмм-волн. Изложена история...
  • 3,77 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 58 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 11 (1465)). Аналитический обзор представляет собой систематизацию сведений о желобковом волноводе (ЖВ), считающемся в настоящее время одной из наиболее перспективных линий передачи диапазона мм- и субмм-волн. Во 2 части обзора содержатся результаты экспериментальной проверки...
  • 1,35 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1986. — 137 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 11 (1200)). Анализируется современное состояние техники волноведущих структур дли создания устройств на КВЧ (крайне высокие частоты), Рассматриваются различные типы таких структур: с направляющими металлизированными поверхностями, на основе градиента показателя преломления...
  • 2,70 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 58 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 5 (1208)). Представлен обзор литературы по эпитаксиальному росту тонких пленок силицидов на поверхности кремния, металлов и сложных веществ. Наиболее подробно освещены вопросы, связанные со структурой силицидных пленок. Приведенные данные могут быть использованы для разработки...
  • 1,81 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
М.: ЦНИИ Электроника, 1990. — 18 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 8 (1569)). Аналитический обзор посвящен рассмотрению механизмов роста и выращивания междендритных монокристаллических лент кремния с тонкой двойниковой прослойкой, электрических свойств и особенностей структуры лент. Проанализировано более 50 источников отечественной и зарубежной...
  • 1,03 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 57 с. — (Обзоры по электронной технике Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 8 (1202)). Рассмотрено практическое применение метода релаксационной спектроскопии глубоких уровней для исследования характеристик глубоких уровней (ГУ) в различных материалах электронной техники: кремнии, соединениях и твердых растворах А...
  • 1,50 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. — 46 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 1 (857)). Обобщен и систематизирован опубликованный материал по использованию алмазов в качестве теплоотводов в конструкциях корпусов полупроводниковых приборов. Рассмотрены свойства и методы измерения теплопроводности алмазов, а также конструкции корпусов с...
  • 2,05 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1975. — 1988. — 36 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 4 (1342)). Обзор посвящен применению природных алмазов в качестве активных и пассивных элементов в полупроводниковой электронике. Рассмотрены алмазные теплоотводы: теплофизические характеристики; способы обработки сырья; металлизация и крепление; эмиттеры...
  • 1,08 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1988. — 62 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 1 (1336)). Рассмотрены экспериментальные результаты протонирования из расплавов органических кислот приповерхностных слоев и конденсированных пленок оксидов элементов II—VI групп, современные представления о разупорядоченности оксидов вблизи границ раздела и закономерности...
  • 1,79 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1984. — 37 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 5 (1041)). Приведены литературные данные по исследованию механизмов роста из газовой фазы эпитаксиальных слоев кремния. Рассмотрены результаты применения к решению этой проблемы методов химической кинетики гетерогенных реакций и теории роста кристаллов. Показано, что...
  • 1,15 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1980. — 28 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 6 (739)). Обзор посвящен схемотехнике оптоэлектронных развязывающих устройств, предназначенных для передачи аналоговых сигналов. Дана классификация указанных устройств, проведен их сравнительный анализ, учитывающий линейность, температурную и временную стабильность...
  • 1,71 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 60 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 1 (1424)). Проанализированы состояние, тенденции и перспективы чистых производственных помещений, используемых для изготовления полупроводниковых приборов, с учетом постоянно повышающихся требований к надежности и выходу годных. Основной упор делается на анализ...
  • 1,27 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1985. — 52 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 4 (1088)). Дана краткая характеристика используемых реагентов и методов экспресс-анализа свойств слоев, подробно проанализированы причины неравномерного роста слоев при объемной загрузке пластин в реакторах и способы оптимизации процессов...
  • 1,61 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1984. — 26 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 8 (1051)). Анализируются явления тепло- и массопереноса в условиях реактора пониженного давления при объемной загрузке подложек. Определены условия лимитирования процесса газофазной или поверхностной реакциями. Показаны кинетические особенности проведения при...
  • 745,59 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1988. — 80 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 14 (1402)). Рассмотрены примеры и обобщен опыт размещения, проектирования и строительства производственных зданий с чистыми комнатами высоких классов (100, 10, 1). Раскрываются их специфические особенности, в том числе...
  • 2,50 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 29 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 3. Микроэлектроника. Выпуск 5 (1233)). Рассматриваются вопросы плазмохимического синтеза диэлектриков, конструктивное оформление плазмохимических процессов, а также плазмохимическое осаждение диэлектрических слоев. Для специалистов, инженеров, научных работников, преподавателей, аспирантов и студентов....
  • 770,48 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 69 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 3 (1433)). Рассмотрены основные вопросы гетероэпитаксии в системе неполярный элементарный полупроводник IV группы периодической системы Менделеева (Si,Ge) - полярное соединение A III B V (GaAs, GeP). Описаны основные типы структурных дефектов и способы понижения их...
  • 1,87 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 53 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 1 (1178)). Свойства и методы образования пленок силицидов. Рассмотрены общие свойства силицидов тугоплавких металлов: удельное сопротивление, механическая стабильность и особенности термического окисления, определяющие возможность их применения в технологии....
  • 1002,67 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 39 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 9 (1235)). Обзор посвящен особенностям технологии полупроводниковых гетероструктур, изготовленных с применением импульсной лучевой термообработки: структурам «поликристаллический кремний на диэлектрике», «кремний на сапфире», «эпитаксиальные силициды на кремнии», «германий на...
  • 1,27 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1988. — 44 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 16 (1418)). Сделана попытка обобщения отечественного и зарубежного опыта проектирования и эксплуатации систем вентиляции и кондиционирования воздуха чистых комнат и прогнозирования их развития на ближайший период. Подробно рассмотрены...
  • 1,30 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 61 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 9 (1506)). Рассмотрены особенности получения и области применения пористого кремния в электронной технике для создания изолирующих слоев, глубоко проникающих в пластину локальных областей высокой электропроводности, для геттерирования примесей, а также при...
  • 1,74 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1984. — 60 с.: ил. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 10 (1035)). Проанализирована отечественная и зарубежная научно-техническая и патентная литература за 1956—1983 гг., посвященная вопросам разработки магниторазрядных устройств для получения и поддержания вакуума, а также для...
  • 4,65 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 47 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 6 (1487)). Приведен анализ отечественных и зарубежных литературных источников по травлению полупроводников типа A III B V (GaAS, InP, GaP) в галогенсодержащей низкотемпературной плазме пониженного давления, а также плазме водорода. Рассмотрены влияние внешних параметров разряда...
  • 1,28 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 46 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 8 (1455)). Представлен анализ развития основных элементов систем газофазной эпитаксии кремния, в частности, геометрии реакторов, видов нагрева подложек, а также материалов, используемых и эпитаксиальной технологии. Приведена характеристика...
  • 1,40 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1986. — 54 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 7 (1242)). Рассматриваются теоретические основы и современное состояние метода плазмохимического осаждения в реакторах пониженного давления, анализируются основные типы установок и конструкции промышленного оборудования для получения тонких диэлектрических и...
  • 1,51 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1988. — 63 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 2 (1332)). Рассматривается технология плазмохимического осаждения слоев нитрида кремния, поликристаллического кремния, двуокиси кремния силикатных стекол, их важнейшие свойства и области применения в микроэлектронике. Анализируется взаимосвязь свойств слоев с...
  • 1,64 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1992. — 107 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 5 (1673)). В аналитическом обзоре кратко освещены основные результаты по теории катодов, их структуре и составу, методам контроля параметров катодов, измерению неоднородностей и шумов, конструированию катодных узлов и испытаниям. Рассмотрены антиэмиссионные покрытия. Дан...
  • 4,46 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1989. — 46 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 21 (1505)). Рассмотрены принципы построения, конструкции и характеристики многофункциональных устройств, выполненных на основе полупроводниковых генераторов, стабилизированных диэлектрическими резонаторами. Приведена методика расчета основного узла таких устройств -...
  • 1,78 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
И.И. Бродуленко, А.И. Абраменков, Д.А. Ковтунов, В.Н. Лебедев, А.М. Сергиенко. — Москва: ЦНИИ Электроника, 1989. — 61 с.: ил. — (Обзоры по электронной технике. Серия 1. Электроника СВЧ. Выпуск 10 (1454)). В обзорах [1-б] рассмотрев основные и наиболее актуальные вопросы, связанные с параметрами и характеристиками миниатюрных термостабильных высокодобротных диэлектрических...
  • 3,03 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1982. — 44 c. — (Обзоры по электронной технике. Серия 4. Электровакуумные и газоразрядные приборы. Выпуск 2 (885)). Рассмотрены особенности низковольтной катодолюминесценции, оценены возможности этого явления с точки зрения использования его в целях индикации. Описаны используемые материалы и основные технологические приемы при изготовлении вакуумных...
  • 816,71 КБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1977. — 88 с. — (Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций. Серия 3. Микроэлектроника. Выпуск 1 (77)). Использование микросхем полупроводниковой памяти, в частности, серий К519 и К527 упрощает процессы проектирования и производства запоминающих устройств (ЗУ) и делает возможной разработку рядов ЗУ на единой схемной и...
  • 2,91 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1975. — 50 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 6. Материалы. Выпуск 2 (309)). Рассмотрены требования к резистивным сплавам, проволокам и проводам проволочных резисторов. Даны общие сведения об основных изготовителях резистивных сплавов,проволок и проводов за рубежом. Описаны сплавы и характеристики проволок и проводов,выпускаемых за рубежом....
  • 2,02 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1981. — 48 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали и радиокомпоненты. Выпуск 4 (837)). Рассмотрены достижения в области технологии и организации производства за рубежом. Описан ряд работ по специфике использования керметных резисторов в режимах повышенных градиентов напряжения и импульсных воздействий. Излагается предложение о новом...
  • 2,29 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
По данным отечественной и зарубежной печати за 1973—1979 гг. — Москва: ЦНИИ "Электроника", 1979. — 57 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 8 (0659)). Рассмотрены физические основы действия и конструктивные схемы магнетронных распылительных устройств (магратронов). Приведены основные сведения о технологических...
  • 738,73 КБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1971. — 36 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 5. Радиодетали. Выпуск 2 (278)). Рассматриваются основные технические характеристики, конструкция и технология подстроечных конденсаторов по данным иностранной печати за 1963—1970 гг. Определяются области применения и перспективы развития этих конденсаторов. Введение. Дисковые подстроечные...
  • 1,15 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ "Электроника", 1975. — 72 с. — (Тезисы докладов и рекомендации научно-технических конференций. Серия 2. Полупроводниковые приборы. Выпуск 1 (45)). Настоящий выпуск посвящен конференции потребителей новых изделий электронной техники, имевшей целью обмен опытом по применению полевых транзисторов и гибридных интегральных схем на их основе в радиоэлектронной аппаратуре,...
  • 3,75 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Научно-технический сборник. — Москва: ЦНИИ "Электроника", 1972. — 136 с. — (Электронная техника. Серия 4. Электровакуумные и газоразрядные приборы. Выпуск 2). Доронин В.Г. Устойчивость одновременной генерации в замкнутой системе из трех каналов. Гримблатов В.М., Остапченко Е.П., Теселкин В.В. Взаимодействие переходов с общим уровнем в двухволновом одночастотном газовом лазере....
  • 7,55 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Москва: ЦНИИ Электроника, 1988. — 48 с. — (Обзоры по электронной технике. Серия 7. Технология, организация производства и оборудование. Выпуск 4 (1338)). Рассмотрены вопросы практического применения метода вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) для послойного анализа полупроводниковых материалов. Особое внимание обращается на динамический диапазон послойного анализа и...
  • 1,22 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.